Сканирующая туннельная колебательная спектроскопия единичных поверхностных комплексов и детектирование одиночных электронных спинов

Рассмотрены новые варианты спектроскопических методов с использованием сканирующего туннельного микроскопа, которые позволяют измерять колебательные спектры единичных поверхностных комплексов, определять неравновесные распределения таких комплексов по колебательным уровням и изучать кинетику колебательных переходов, определять параметры релаксации, детектировать одиночные поверхностные электронные спины и изучать динамику быстрой поверхностной миграции частиц. Обсуждены физические основы этих методов и их применение в химических исследованиях.
Библиография – 80 ссылок.