Локальная томографическая реконструкция огибающей тонкого дефекта с использованием эталонного образца

Излагается вычислительный алгоритм томографической диагностики дефектов (в промышленных изделиях) весьма малой ширины в плоскости контролируемого сечения, что делает их нечувствительными для части зондирующих лучей. Рассматриваемая задача не позволяет применять известные алгоритмы томографической реконструкции, разработанные для случаев неполных проекционных данных, так как характерная толщина диагностируемого дефекта существенно меньше длины минимального пространственного периода, воспроизводимого томографом. Алгоритм основан на методике использования проекционной матрицы эталонного (без дефектов) образца и обеспечивает выполнение оперативной локальной реконструкции интересующей части исследуемого изделия в режиме реального времени.