RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Математический сборник // Архив

Матем. сб., 2001, том 192, номер 4, страницы 59–72 (Mi sm557)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Оценки собственных значений для ганкелевых матриц

Н. Л. Замарашкин, Е. Е. Тыртышников

Институт вычислительной математики РАН

Аннотация: Положительно определенные ганкелевы матрицы обладают следующим важным свойством: отношение максимального и минимального собственных значений (спектральное число обусловленности) имеет оценку снизу в виде растущей экспоненты от порядка матрицы, при этом оценка не зависит от конкретных значений элементов. Доказательство этого факта связано с так называемыми вандермондовыми разложениями положительно определенных ганкелевых матриц. В данной работе изучается структура таких разложений для вещественных незнакоопределенных строго регулярных ганкелевых матриц и предлагаются некоторые обобщения оценок спектрального числа обусловленности.
Библиография: 8 названий.

УДК: 512.64

MSC: Primary 15A18, 65F15, 15A27; Secondary 15A32, 65F35

Поступила в редакцию: 15.06.2000

DOI: 10.4213/sm557


 Англоязычная версия: Sbornik: Mathematics, 2001, 192:4, 537–550

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024