Аннотация:
Рассматриваются методы повышения эффективности формирования тестов, используемых при проведении наземных испытаний бортовой аппаратуры космических аппаратов. Предложен подход, позволяющий применять мутационное тестирование для аппаратно-программных средств, разрабатываемых на основе динамически реконфигурируемых интегральных схем. Рассмотрены два способа моделирования аппаратных мутаций для тестирования. Первый подход основан на классическом использовании средств автоматизации моделирования электронных приборов (EDA — electronic design automation) с автоматическим формированием пакетов тестов. Второй способ использования мутационного тестирования может опираться на применение динамически реконфигурируемых архитектур в аппаратной части проектируемого устройства в сочетании с программными средствами, имитирующими логику работы реального объекта испытаний. Описаны особенности создания аппаратной и программной составляющих тестовых комплексов, разрабатываемых на основе предлагаемой методики. Определены основные пути развития предлагаемого подхода.
Ключевые слова:мутационное тестирование; языки описания аппаратуры; наземные испытания; аппаратура; комплекс.