Аннотация:
В данной работе предлагается метод получения вейвлет-коэффициентов напрямую из проекционных данных веерной схемы сканирования. Предлагаемый метод не требует использования вейвлетов специального вида и позволяет локализовать восстановление отдельных деталей изображения, благодаря чему можно уменьшить дозу радиации, необходимую для получения проекционных данных. В работе рассматривается двумерный случай.