RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Системы и средства информатики // Архив

Системы и средства информ., 2015, том 25, выпуск 1, страницы 74–88 (Mi ssi394)

Анализ покрытия UCM-модели тестовыми сценариями

Н. В. Воинов, П. Д. Дробинцев, В. П. Котляров, И. В. Никифоров

Санкт-Петербургский государственный политехнический университет

Аннотация: Рассмотрены подходы к анализу покрытия UCM (Use Case Maps) моделей тестовыми сценариями, сгенерированными по интегральным критериям покрытия. Дан обзор существующих критериев автоматической генерации тестовых сценариев по высокоуровневым UCM-спецификациям. Предложены два подхода анализа покрытия UCM-модели: автоматический, который предоставляет информацию о покрытых и непокрытых элементах, ветвях и путях в сводной форме, и визуальный, который позволяет пользователю наглядно удостовериться в покрытии UCM-модели. Описанные подходы и концепции реализованы в инструменте анализа, который значительно сокращает время формирования покрывающего множества тестов. Дано направление будущих работ по анализу покрытия сигналов UCM-модели.

Ключевые слова: критерии генерации; тестовые сценарии; UCM; спецификации; анализ.

Поступила в редакцию: 30.01.2015

DOI: 10.14357/08696527150105



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024