RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Труды Математического института имени В. А. Стеклова // Архив

Труды МИАН, 2018, том 301, страницы 219–224 (Mi tm3905)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Полные диагностические тесты длины $2$ для схем при инверсных неисправностях функциональных элементов

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, Москва, Россия

Аннотация: Доказано, что любую булеву функцию можно реализовать схемой из функциональных элементов в базисе $\{x\,\&\,y\,\&\,z,x\oplus y,1\}$, допускающей полный диагностический тест длины не более $2$ относительно инверсных неисправностей на выходах элементов.

УДК: 519.718.7

Поступило в редакцию: 9 октября 2017 г.

DOI: 10.1134/S0371968518020164


 Англоязычная версия: Proceedings of the Steklov Institute of Mathematics, 2018, 301, 207–212

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024