RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теоретическая и математическая физика // Архив

ТМФ, 1996, том 106, номер 2, страницы 306–314 (Mi tmf1116)

Возмущение поверхностной плотности электронных состояний точечным дефектом – связь с топологией изоэнергетической кривой

С. В. Фролов

Научно-исследовательский институт физики им. В. А. Фока Санкт-Петербургского государственного университета

Аннотация: Рассматривается дискретное уравнение Шредингера на двумерной решетке Браве, возмущенное точечным потенциалом. Исследована асимптотика возмущения поверхностной плотности состояний. Установлено, что качественное поведение этого возмущения зависит главным образом от топологических свойств изоэнергетической кривой на зоне Бриллюэна.

Поступило в редакцию: 06.06.1995

DOI: 10.4213/tmf1116


 Англоязычная версия: Theoretical and Mathematical Physics, 1996, 106:2, 254–260

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024