Определение температуры по самообращенным спектральным линиям с учетом реальной структуры плазмы

Предлагается определять коэффициент $Z=M_\infty Y_\infty$ ($M_\infty$ и $Y_\infty$ - коэф­фициенты теории Бартельса) с учетом реальной структуры плазмы. Для этого используются спектры поглощения и излучения, зарегистрирован­ные в поперечном сечении плазмы, по которым определяется реальный ход концентрации атомов и полуширины контура тонкого слоя. Состав­лена итерационная схема для определения температуры. Проведен математический эксперимент и определено распределение температуры в плазме низковольтного импульсного разряда.