Аннотация:
Проведено измерение температуры поверхности вольфрамового торцевого анода оптическим методом с помощью быстродействующего фотоэлектрического микропирометра для четырех длин волн. В качест ве контрольной точки использовалась температура кристаллизации. Определение температуры осуществлялось цветовым (двух- и трехцвет ным) и яркостным методами, а также по поляризованному излучению. Приведено сопоставление результатов, полученных различными методами.