Новый способ описания экранирования в сильно неидеальной и пылевой плазме. Однокомпонентные системы

Предложено новое описание электростатического экранирования в однокомпонентной плазме, свободное от нефизичных свойств, присущих модели Дебая—Хюккеля. Метод пригоден для сильно неидеальной плазмы. Параметры экранирования представлены в простой аналитической форме. Результаты данной части работы являются основой для последующего описания экранирования в плотной двухкомпонентной плазме, изложенного в продолжении настоящей работы.