RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теплофизика высоких температур // Архив

ТВТ, 2001, том 39, выпуск 2, страницы 225–228 (Mi tvt1878)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Исследование плазмы

Исследование электрофизических характеристик элегаза. Влияние приэлектродных слоев на точность измерений

А. Е. Дубинов, В. А. Летягин, К. Е. Михеев, Б. Г. Птицын, С. А. Садовой, В. Д. Селемир

Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики Российского федерального ядерного центра, г. Саров

Аннотация: Рассмотрено влияние приэлектродных слоев объемного заряда на точность определения напряженности электрического поля в ионизационной камере, описанной в первой части статьи [1]. Показано, что ошибка в измерениях при давлениях элегаза от $10$ до $100$ Тор не превышала $3\%$.

УДК: 533.93+621.315.618.9

Поступила в редакцию: 20.01.2000


 Англоязычная версия: High Temperature, 2001, 39:2, 205–208


© МИАН, 2024