RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теплофизика высоких температур // Архив

ТВТ, 2000, том 38, выпуск 6, страницы 853–861 (Mi tvt2183)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Исследование плазмы

Электропроводность полностью ионизованной магнитоактивной плазмы с экранированным взаимодействием между зарядами

Е. В. Заика, И. А. Муленко, А. Л. Хомкин

Объединенный институт высоких температур РАН, г. Москва

Аннотация: Методом решения кинетического уравнения Больцмана выполнен расчет электропроводности полностью ионизованной плазмы с экранированным взаимодействием между зарядами, находящейся в постоянном во времени внешнем магнитном поле. Установлены зависимости продольной, поперечной и холловской проводимости от параметра неидеальности плазмы $\Gamma$ и степени ее замагниченности $\omega_e\tau_0$. Показано, что максимальное (по модулю) значение холловских компонент проводимости плазмы смещается в сторону меньших значений напряженности внешнего магнитного поля $H$ по мере роста параметра неидеальности $\Gamma$.

УДК: 533.93

Поступила в редакцию: 21.10.1999


 Англоязычная версия: High Temperature, 2000, 38:6, 821–828


© МИАН, 2024