Краткие сообщения

Экспериментальное исследование электрической прочности к обратному дуговому пробою термоэмиссионного диода с цезиевым наполнением

В. В. Онуфриев, С. Д. Гришин

Научно-исследовательский институт энергетического машиностроения, г. Москва

УДК: 533.9

Поступила в редакцию: 14.07.1995

 Англоязычная версия: High Temperature, 1996, 34:3, 477–480

Реферативные базы данных:

•