Методика определения теплофизических свойств электропроводных анизотропных материалов при температурах $1400$–$3000$ K

Представлена новая методика одновременного определения теплопроводности в направлении двух главных осей анизотропии и интегральной полусферической излучательной способности поверхности электропроводных материалов. Рассмотрен рад вопросов, возникающих при экспериментальной реализации данной методики на установке с тиристорным регулированием нагрева образца.