Термическое разрушение электронной оболочки $\mathrm{Be}^+$ в плотной высокотемпературной плазме. Расчет методом Монте-Карло

Численным методом, основанным на технике фейнмановских интегралов по траекториям, моделируется смешанное квантовое состояние электронной оболочки $\mathrm{Be}^+$ при температуре $10$–$30$ эВ, относительно устойчивое в условиях плотной плазмы. Межэлектронные корреляции и взаимодействия описываются явно. Показано, что в предионизационном состоянии электронная оболочка претерпевает качественные перестроения, обусловленные обменно-корреляционными эффектами.