RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теплофизика высоких температур // Архив

ТВТ, 1987, том 25, выпуск 6, страницы 1073–1079 (Mi tvt4822)

Исследование плазмы

Неустойчивость приэлектродных областей тлеющего разряда

К. Н. Ульянов, В. В. Чулков

Всероссийский электротехнический институт им. В. И. Ленина

Аннотация: Рассмотрена ионизационная неустойчивость плазмы тлеющего разряда на границе приэлектродного слоя с плазмой. Показано, что длинноволновые возмущения стабилизируются сопротивлением столба плазмы. Получено уравнение, связывающее инкремент и порог неустойчивости с размерами возмущения и разряда, кинетическими коэффициентами, характеризующими ионизацию и деионизацию плазмы, и величиной отрицательного дифференциального сопротивления приэлектродного слоя. Определены границы устойчивости приэлектродной области в азоте для поднормального несамостоятельного тлеющего разряда. Рассмотрена прилипательная неустойчивость приэлектродной области. Показано, что в случае диссоциативного механизма прилипания электроотрицательная примесь может стабилизировать разряд.

УДК: 537.532

Поступила в редакцию: 23.07.1986


 Англоязычная версия: High Temperature, 1987, 25:6, 776–782

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024