Новый способ описания экранирования в сильно неидеальной пылевой плазме. Часть 2. Двухкомпонентные системы

Предложена новая теоретическая модель электростатического экранирования в двухкомпонентных системах (электрон-ионной плазме, пылевой плазме, электролитах и т.д.), пригодная для описания систем с высокой степенью неидеальности. Получены выражения для параметров экранирования, введенных в предыдущей части настоящей работы [1], а также дополнительные характеристики, присущие только многокомпонентным системам. Результаты представлены в простой аналитической форме, удобной для интерпретации экспериментальных данных при лабораторных исследованиях.