RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теплофизика высоких температур // Архив

ТВТ, 1978, том 16, выпуск 6, страницы 1305–1306 (Mi tvt6997)

Обзор

К вопросу о применимости метода диаграммы существования к оценке параметров катодного пятна

В. И. Раховский

Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы

Поступила в редакцию: 05.07.1978



© МИАН, 2024