RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теплофизика высоких температур // Архив

ТВТ, 1970, том 8, выпуск 5, страницы 940–943 (Mi tvt7800)

Исследования плазмы

Исследование пристеночного слоя плазмы методом анализа контуров спектральных линий

Я. Лицки, Б. Мизера, Ш. Сукевер

Институт ядерных исследований, Сверк, Польша

Аннотация: Обсуждается возможность определения параметров пристеночного слоя плазмы. На основании проведенного анализа полученных при помо­щи интерферометра Фабри – Перо контуров резонансных линий натрия в ацетилено-кислородной камере сгорания определены толщина и мини­мальная температура пристеночного слоя плазмы для различных режимов работы установки.

УДК: 533.9.08

Поступила в редакцию: 11.11.1969


 Англоязычная версия: High Temperature, 1970, 8:5, 886–888


© МИАН, 2024