Аннотация:
На основании термодинамического подобия и подобия молекулярных систем гексафторидов серы, молибдена, вольфрама, урана разработаны методы вычислений критических параметров гексафторидов элементов $\rm VI$, $\rm VII$, $\rm VIII$ групп периодической системы. Определены значения критической температуры для $9$, критической плотности для $12$, критического давления для $9$ соединений. Точность вычисления $T_{\text{кр}}$ составляет $0{,}6\%$, $\rho_{\text{кр}}~1\%$ и $P_{\text{кр}}~3\%$. Проведен детальный анализ результатов вычислений критических величин гексафторидов другими методами. Показано, что методы, использованные в настоящей работе, дают существенно лучшие результаты.