RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи физических наук // Архив

УФН, 1973, том 111, номер 2, страницы 355–364 (Mi ufn10470)

Эта публикация цитируется в 1 статье

МЕТОДИЧЕСКИЕ ЗАМЕТКИ

Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера

Э. Гехт

Университет Адельфи, США

Аннотация: Картины дифракции Фраунгофера обнаруживают ряд довольно интересных свойств симметрии. Рассматривается простой, но весьма общий случай дифракции излучения на отверстиях в экране в том случае, когда фаза электрического поля в падающей на экран волне остается постоянной в пределах отверстия. В этом случае распределение интенсивности дифрагированного поля в плоскости изображения независимо от формы отверстия обладает центром симметрии. Кроме этого, наличие дополнительной симметрии в форме отверстия приводит к появлению соответствующей дополнительной симметрии и в картинах дифракции Фраунгофера. Все эти свойства обсуждаются на примере восьми фотографий дифракционных картин.

УДК: 535.433(018)

DOI: 10.3367/UFNr.0111.197310g.0355


 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 1972, 40, 571–575


© МИАН, 2024