КОНФЕРЕНЦИИ И СИМПОЗИУМЫ

Зондирование динамических зарядовых состояний с помощью одноэлектронных туннельных транзисторов

В. А. Крупенин^a, С. В. Лотхов^a, Х. Шерер^b, А. Б. Зорин^b, Ф. Й. Алерс^b, Й. Нимайер^b, Х. Вольф<sup>b

a</sup> Лаборатория крио- электроники, Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова
^b Physikalisch-Technische Bundesanstalt

PACS: 73.40.-c, 74.80.Fp

Поступила: 31 декабря 1998 г.

DOI: 10.3367/UFNr.0168.199802ac.0219

 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 1998, 41:2, 204–206

Реферативные базы данных:

•