Электронная импульсная спектроскопия атомов, молекул и тонких пленок

Представлен обзор теории электронной импульсной спектроскопии (ЭИС), основанной на однократной (многократной) ионизации квантовой мишени (атома, молекулы, тонкой пленки) прямым электронным ударом. Приведены многочисленные примеры преимуществ ЭИС при расшифровке импульсных распределений конечных электронов по сравнению с другими методами прямого исследования структуры многочастичной волновой функции мишени. В частности, показано, что ЭИС позволяет осуществить значительный прогресс в квантовой химии молекул, приблизиться к пониманию процессов перестройки их наружных электронных орбиталей при адиабатическом сближении, детально исследовать зонную структуру и вид одноэлектронных волновых функций не только кристаллических, но и аморфных тонких пленок. Исследована возможность прямого "портретирования" электронных корреляций в атомах методом двухкратной ионизации.