Эта публикация цитируется в 1 статье

КОНФЕРЕНЦИИ И СИМПОЗИУМЫ

Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия

В. С. Эдельман

Институт физических проблем им. П. Л. Капицы РАН, г. Москва

PACS: 07.20.Mc, 07.79.-v, 07.79.Cz, 68.35.Bs

Поступила: 29 мая 2000 г.

DOI: 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995

 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 2000, 43:9, 925–926

Реферативные базы данных:

• 
•