RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи физических наук // Архив

УФН, 2001, том 171, номер 1, страницы 105–117 (Mi ufn1837)

Эта публикация цитируется в 32 статьях

ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ

Управляемая трансформация электрических, магнитных и оптических свойств материалов ионными пучками

Б. А. Гурович, Д. И. Долгий, Е. А. Кулешова, Е. П. Велихов, Е. Д. Ольшанский, А. Г. Домантовский, Б. А. Аронзон, Е. З. Мейлихов

Российский научный центр "Курчатовский институт"

Аннотация: Наличие метода, обеспечивающего возможность контролируемого создания объемного "рисунка", состоящего из областей с требуемыми физическими и химическими свойствами, является ключевым условием для радикального прогресса в технологиях XXI века. Это особенно актуально, если метод позволяет обеспечить создание таких областей с размерами вплоть до нанометровых. В нашей работе впервые предлагается способ целенаправленной прямой трансформации наиболее важных физических свойств материалов, таких как электрические, магнитные, оптические и др., за счет радикального изменения атомного состава твердых тел. Физические основы новой технологии связаны с открытым нами эффектом селективного удаления атомов из тонких пленок двух- или многоатомных соединений пучками ускоренных частиц. Возможности этого метода исследованы и подтверждены нашими многочисленными экспериментами. В частности, показано, что селективное удаление атомов определенного сорта позволяет целенаправленно переводить диэлектрики в металлы или полупроводники, немагнитные материалы — в магнитные, а также радикально изменять оптические характеристики материалов и ряд других свойств. Возможность селективного удаления атомов определенного сорта из вещества представляет большой интерес для технологий будущего, в первую очередь, связанных с потребностями как наноэлектроники, так и с множеством "нанопроблем" третьего тысячелетия.

PACS: 61.80.Jh, 61.82.Ms, 68.55.-a, 73.50.-h, 73.61.-r, 79.20.Rf, 81.05.-t

Поступила: 18 сентября 2000 г.

DOI: 10.3367/UFNr.0171.200101d.0105


 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 2001, 44:1, 95–105

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024