RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи физических наук // Архив

УФН, 2002, том 172, номер 1, страницы 67–83 (Mi ufn1973)

Эта публикация цитируется в 100 статьях

ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ

Применение позитронной аннигиляционной спектроскопии для изучения строения вещества

В. И. Графутин, Е. П. Прокопьев

Институт теоретической и экспериментальной физики им. А. И. Алиханова, г. Москва

Аннотация: Рассмотрен сравнительно новый метод изучения строения вещества — метод позитронной аннигиляционной спектроскопии (ПАС), включающий измерения времен жизни позитронов, методы определения вероятностей 3γ- и 2γ-аннигиляций позитронов, влияние на основные характеристики аннигиляции различных внешних факторов. Проанализированы особенности процесса аннигиляции позитронов в ионных кристаллах, полупроводниках, металлах и некоторых конденсированных средах, возможности и перспективы ПАС для изучения их электронной и дефектной структуры. Представлены примеры применения ПАС в радиационной физике и химии различных веществ, в физике и химии растворов.

PACS: 71.60.+z, 78.70.Bj, 82.55.+e

Поступила: 20 марта 2001 г.

DOI: 10.3367/UFNr.0172.200201c.0067


 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 2002, 45:1, 59–74

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024