Аннотация:
Рассмотрен сравнительно новый метод изучения строения вещества — метод позитронной аннигиляционной спектроскопии (ПАС), включающий измерения времен жизни позитронов, методы определения вероятностей 3γ- и 2γ-аннигиляций позитронов, влияние на основные характеристики аннигиляции различных внешних факторов. Проанализированы особенности процесса аннигиляции позитронов в ионных кристаллах, полупроводниках, металлах и некоторых конденсированных средах, возможности и перспективы ПАС для изучения их электронной и дефектной структуры. Представлены примеры применения ПАС в радиационной физике и химии различных веществ, в физике и химии растворов.