RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи физических наук // Архив

УФН, 2006, том 176, номер 2, страницы 203–212 (Mi ufn278)

Эта публикация цитируется в 77 статьях

ИЗ ТЕКУЩЕЙ ЛИТЕРАТУРЫ

Критический размер в сегнетоэлектрических наноструктурах

В. М. Фридкин

Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН

Аннотация: В последнее время предпринимается попытка определения критического размера в сегнетоэлектричестве. Этот фундаментальный вопрос в связи с развитием сегнетоэлектрических наноструктур стал актуальным и в прикладном отношении. Показано, что, несмотря на предсказанное теорией существование конечного критического размера, по крайней мере, в сегнетоэлектрических пленках Ленгмюра–Блоджетт, приготовленных из сополимера винилиденфторида–трифторэтилена P[VDF – TrFE], сегнетоэлектрическая поляризация и ее переключение наблюдаются в одном монослое. Приводится краткий обзор работ по поиску критического размера в перовскитовых сегнетоэлектриках. Показано, что теория Ландау–Гинзбурга предсказывает сколь угодно малый критический размер, если учесть несобственный эффект, связанный с деформациями несоответствия на границе пленка–электрод (“mismatch” эффект). Сверхтонкие сегнетоэлектрические пленки могут обладать особенностями в динамике переключения.

PACS: 05.70.Np, 77.80.-e, 77.84.Jd

Поступила: 21 июля 2005 г.
Доработана: 9 октября 2005 г.

DOI: 10.3367/UFNr.0176.200602c.0203


 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 2006, 49:2, 193–202

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024