RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи физических наук // Архив

УФН, 2017, том 187, номер 3, страницы 277–295 (Mi ufn5656)

Эта публикация цитируется в 19 статьях

ОБЗОРЫ АКТУАЛЬНЫХ ПРОБЛЕМ

Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля

Д. В. Казанцевa, Е. В. Кузнецовb, С. В. Тимофеевb, А. В. Шелаевb, Е. А. Казанцеваc

a Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Институт теоретической и экспериментальной физики им. А. И. Алиханова, г. Москва
b Группа компаний NT-MDT Spectrum Instruments: "НТ-МДТ", Москва, Зеленоград
c Московский технологический университет

Аннотация: Рассмотрены принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM), в котором зонд-игла играет роль стержневой антенны-вибратора, а регистрируемый сигнал — его электромагнитного излучения. Фаза и амплитуда излучаемой волны изменяются в зависимости от условий “заземления” конца антенны в исследуемой точке образца. Для детектирования слабого излучения крошечной иглы (её длина 2 – 15 мкм) используется оптическое гомо(гетеро)динирование и нелинейность зависимости оптической дипольной поляризуемости иглы от расстояния остриё–поверхность. Пространственное разрешение прибора определяется размером острия иглы (1 – 20 нм) независимо от рабочей длины волны (500 нм – 100 мкм). Показана способность ASNOM получать карту оптических свойств поверхности путём растрового сканирования, а также обеспечивать спектральные и временные измерения отклика поверхности в избранной точке.

PACS: 07.60.-j, 07.79.Fc, 61.46.-w, 68.37.Ps, 68.65.Pq, 85.30.De, 87.64.-t

Поступила: 15 апреля 2016 г.
Доработана: 24 мая 2016 г.
Одобрена в печать: 24 мая 2016 г.

DOI: 10.3367/UFNr.2016.05.037817


 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 2017, 60:3, 259–275

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024