RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи физических наук // Архив

УФН, 2019, том 189, номер 2, страницы 187–194 (Mi ufn6230)

Эта публикация цитируется в 12 статьях

ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ

Метод времяразрешающего рентгенодифракционного картирования обратного пространства в условиях воздействия электрического поля на кристалл

Н. В. Марченковab, А. Г. Куликовab, И. И. Аткнинab, А. А. Петренкоab, А. Е. Благовab, М. В. Ковальчукab

a Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллогафия и фотоника" РАН, г. Москва
b Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", г. Москва

Аннотация: Разработана и впервые реализована рентгеновская методика картирования обратного пространства в трёхосевой геометрии дифракции с временным разрешением на лабораторном источнике излучения. Методика позволяет изучать протекающие в образце под влиянием внешних воздействий процессы, вызывающие обратимые деформации его кристаллической решётки, разграничивать эти процессы во времени, а также разделять разные виды деформаций, возникающих в кристалле в результате этих воздействий. Суть методики заключается в измерении временных зависимостей интенсивности для каждой точки обратного пространства в окрестности дифракционного максимума в трёхосевой геометрии дифракции при повторяющемся и идентичном по своей структуре воздействии на образец электрическим полем высокой напряжённости, с последующим построением эволюции во времени двумерной карты обратного пространства. Временное разрешение достигается благодаря быстродействующему многоканальному анализатору интенсивности, синхронизованному с высоковольтным источником напряжения. Продемонстрированы результаты измерения дифракционных карт обратного пространства на лабораторном источнике излучения для пьезоэлектрического кристалла лантан-галлиевого силиката при воздействии на него внешним электрическим полем напряжённостью 3,08 кВ мм$^{-1}$, близкой к пробойной, с временным разрешением до 10 мс.

PACS: 06.60.Jn

MSC: 78A45

Поступила: 15 января 2018 г.
Доработана: 6 мая 2018 г.
Одобрена в печать: 6 июня 2018 г.

DOI: 10.3367/UFNr.2018.06.038348


 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 2019, 62:2, 179–185

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024