RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи физических наук // Архив

УФН, 2019, том 189, номер 12, страницы 1315–1351 (Mi ufn6261)

Эта публикация цитируется в 16 статьях

ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ

Поверхностно-плазменный метод получения пучков отрицательных ионов

В. Г. Дудниковab

a Новосибирский государственный университет
b Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, г. Новосибирск

Аннотация: Повышенный интерес к разработке источников отрицательных ионов связан с развитием их важных применений. Это, прежде всего, тандемные ускорители, высокоэнергетическая имплантация и ускорительная масс-спектрометрия, сверхколлимированные пучки, перезарядная инжекция в циклические ускорители и накопители, перезарядный вывод пучков из циклотронов, инжекторы нейтралов высоких энергий в плазменные установки, перезарядная разводка пучков. Описано развитие источников отрицательных ионов и их применение в исследованиях и в промышленности. Дано описание физических основ и конструкций поверхностно-плазменных источников отрицательных ионов, а также история их разработки.

PACS: 01.65.+g, 29.25.Ni, 52.80.Pi

Поступила: 28 февраля 2018 г.
Доработана: 16 февраля 2019 г.
Одобрена в печать: 17 апреля 2019 г.

DOI: 10.3367/UFNr.2019.04.038558


 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 2019, 62:12, 1233–1267

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024