КОНФЕРЕНЦИИ И СИМПОЗИУМЫ

Развитие сканирующей туннельной микроскопии

В. С. Эдельман


PACS: 07.79.Cz, 68.37.Ef, 72.40.+w, 78.55.Cr, 74.72.Bk, 78.67.Pt

DOI: 10.3367/UFNr.0161.199103k.0168

 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 1991, 34:3, 272–273