Вакуумная туннельная микроскопия и спектроскопия

Одним из наиболее значительных достижений в физике 80-х годов явилось создание нового мощного метода топографии и анализа поверхности твердого тела – сканирующей туннельной микроскопии. За прошедшие с момента появления первой публикации пять лет поток работ, посвященных описанию новых вариантов туннельных микроскопов и их использованию в науке, стремительно нарастает. Значение этих исследований, открывших новую страницу в микроскопии, выходит за рамки физики твердых тел и затрагивает многие области наших знаний. Наилучшим подтверждением этому служит присуждение Нобелевской премии по физике за 1986 г. создателям сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) Г. Биннигу и Г. Рореру (совместно с Э. Руской, удостоенным этой награды за разработку электронного микроскопа).