Эта публикация цитируется в 1 статье

СОВЕЩАНИЯ И КОНФЕРЕНЦИИ

Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности

В. И. Панов


УДК: 538.971(048)

PACS: 68.37.Ef, 66.30.Fq, 68.35.Bs, 68.47.De, 73.20.At

DOI: 10.3367/UFNr.0155.198805h.0155

 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 1988, 31:5, 471–473