СОВЕЩАНИЯ И КОНФЕРЕНЦИИ

Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия

М. С. Хайкин


УДК: 538.971(048)

PACS: 68.37.Ef, 73.30.+y, 68.35.Bs, 74.72.Bk, 74.50.+r

DOI: 10.3367/UFNr.0155.198805i.0158

 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 1988, 31:5, 473–474