RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи физических наук // Архив

УФН, 1987, том 152, номер 1, страницы 75–122 (Mi ufn7940)

Эта публикация цитируется в 14 статьях

ОБЗОРЫ АКТУАЛЬНЫХ ПРОБЛЕМ

Электронная микроскопия атомного разрешения

Б. К. Вайнштейн

Институт кристаллографии им. А. И. Шубникова АН СССР, г. Москва

Аннотация: Современные просвечивающие электронные микроскопы имеют разрешение до 1,5–2 $\mathring{\mathrm{A}}$ что позволяет непосредственно наблюдать атомы. Изложена теория формирования электронно-микроскопического изображения атомного разрешения, влияние аберраций, свойства передаточной функции, методы обработки, расчета и интерпретации изображений. Рассмотрена связь электронной микроскопии и электронной дифракции. Приведены примеры электронно-микроскопических исследований атомной структуры различных объектов – молекул, кристаллов, различных органических и неорганических соединений, в том числе минералов, полупроводников, исследований дефектов кристаллической структуры и ее формирования при образовании кристаллов. Ил. 50. Библиогр. ссылок 113 (115 назв.).

УДК: 537.533.35

PACS: 07.78.+s, 68.37.Lp, 61.66.-f

DOI: 10.3367/UFNr.0152.198705c.0075


 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 1987, 30:5, 393–419


© МИАН, 2024