RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи физических наук // Архив

УФН, 1984, том 142, номер 1, страницы 159–162 (Mi ufn8423)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

ИЗ ТЕКУЩЕЙ ЛИТЕРАТУРЫ

Вакуумная туннельная микроскопия – новый метод изучения поверхности твердых тел

И. П. Ревокатова, А. П. Силин

Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, г. Москва

Аннотация: В последнее время заметно возрос интерес к изучению поверхности твердых тел. Это в свою очередь привело к появлению новых методов и приборов для исследования поверхности. В настоящей заметке мы кратко рассмотрим появившийся совсем недавно принципиально новый метод исследования поверхности, получивший название вакуумной туннельной микроскопии.

УДК: 537.533.35

PACS: 07.79.Cz, 68.37.Ef

DOI: 10.3367/UFNr.0142.198401g.0159


 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 1984, 27:1, 76–78


© МИАН, 2024