Эта публикация цитируется в 5 статьях

НОВЫЕ ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела

Г. Г. Бондаренко, Л. Н. Быстров, Л. И. Иванов, Ю. М. Платов

Институт металлургии им. А. А. Байкова АН СССР, г. Москва

УДК: 537.533.35.07:539.2

PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F

DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303

 Англоязычная версия: Physics–Uspekhi, 1975, 18:6, 446–451