Аннотация:
Рассматривается усовершенствование «гибридного» визуализирующего метода, основанного на традиционной лазерной сканирующей микроскопии в комбинации с чувствительной техникой на плоских однослойных катушках (SFCO-техника), предложенного нашей группой ранее. Метод позволяет визуализировать как двумерную «гранулярную» структуру, так и сверхпроводящий фазовый переход тонких, плоских ВТСП материалов с пространственным разрешением $1-2\ \mu m$. Он позволяет также детектировать слабо выраженные особенности теплоемкости тонких $\mathrm{YBa_2Cu_3O_y}$ пленок, которые важны для верного понимания истинной природы сверхпроводимости. В методе используется хорошо сфокусированный луч $\mathrm{He/Ne}$-лазера (в качестве зондирующего сигнала) и SFCO-техника как чувствительный элемент с высоким разрешением.