Аннотация:
Построена форма линии ЯМР (ЭПР) в сверхпроводниках II рода с учетом изменения неоднородности магнитного поля нерегулярной вихревой решетки вблизи поверхности сверхпроводника. Показано, что форма линии ЯМР (ЭПР) не просто уширяется, а заметно изменяется в зависимости от степени нерегулярности вихревой решетки сверхпроводника. Это изменение связано с понижением локальной симметрии нерегулярной вихревой решетки сверхпроводника. Учет данного обстоятельства может существенно изменить выводы относительно типа вихревой решетки и параметров сверхпроводника, которые обычно извлекают из анализа формы линии магнитного резонанса.