Высокопрецизионные измерения магнитострикции в никелевых структурах с помощью атомно-силового микроскопа

С помощью атомно-силового микроскопа (АСМ), совмещенного с электромагнитом, проведены прецизионные измерения магнитомеханических смещений в различных никелевых структурах, используемых для получения наноконтактов. Установлено, что для микропроволок Ni, закрепленных оловянным припоем к медной подложке или эпоксидной смолой к стеклянной подложке, смещения при изменении магнитного поля от 0 до 250 Э обусловлены в основном магнитострикцией. Аналогичные измерения для пленок Ni, осажденных на Cu подложки или напыленных на MgO подложки, в пределах чувствительности измерения, составляющей 2 нм, не выявили смещений. Поэтому пленочные структуры, характеризующиеся высокой адгезией к подложке, наиболее пригодны для получения баллистических магниторезистивных наноконтактов. На микропроволоках Ni, закрепленных к медным подложкам оловянным припоем, было зарегистрировано как положительное, так и отрицательное магнитосопротивление.