Эта публикация цитируется в
2 статьях
Пятнадцатая международная конференция "Проблемы теоретической кибернетики"
О полных проверяющих тестах относительно локальных слипаний переменных в булевых функциях
И. А. Кузнецов,
Д. С. Романов Факультет вычислительной математики и кибернетики Московского государственного университета им. М. В. Ломоносова
Аннотация:
Под локальным
$k$-кратным слипанием переменных в булевой функции
$f(\widetilde x^n)$ понимается функция, полученная в результате подстановки вместо каждой из каких-то
$k$ последовательных переменных функции
$f$ произвольной булевой функции от этих переменных (
$2\le k\le n$). В работе изучаются полные проверяющие тесты относительно локальных
$k$-кратных слипаний переменных в булевых функциях
$f(\widetilde x^n)$. При этом устанавливается, что при
$n\to\infty$,
$(n-k)\to\infty$,
$k\to\infty$ асимптотика функции Шеннона длины такого теста имеет вид
$2^{k-1}(n-k+2)$. Кроме того, доказывается, что при
$n\to\infty$,
$(n-k)\to\infty$,
$\gamma(n,k)\to\infty$,
$\gamma(n,k)=o(\log_2(n-k))$ существует множество наборов мощности, не превосходящей
$\lceil\log_{4/3}(n-k+1)+\gamma(n,k)\rceil$, являющееся полным проверяющим тестом относительно локальных
$k$-кратных слипаний переменных для почти всех булевых функций
$f(\widetilde x^n)$. В работе также получено, что при
$n\to\infty$,
$2\le k\le n$,
$(n-k)\to\infty$ для почти всех булевых функций
$f(\widetilde x^n)$ длина минимального полного проверяющего теста относительно локальных
$k$-кратных слипаний переменных не превосходит 3.
Ключевые слова:
булева функция, тест для входов схем, локальное слипание переменных.
УДК:
519.718 Поступила в редакцию: 02.03.2009