О синтезе легкотестируемых схем и об оценках длины тестов

В статье рассматриваются единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов при инверсных неисправностях на выходах элементов, проверяющие тесты для схем в случае однотипных константных неисправностей на выходах элементов, единичные диагностические тесты для схем в бесконечном базисе, минимальные тесты для схем, реализующих дизъюнкцию. Приводятся новые оценки длины этих тестов. Эти оценки в ряде случаев являются неулучшаемыми.