Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования FIFO-кэш-памяти микропроцессоров

Рассматривается задача генерации начального состояния кэш-памяти для тестовых шаблонов, использующихся при системном функциональном тестировании процессоров. Обсуждается генерация тестовых данных для базисных способов организации кэш-памяти (полностью ассоциативный кэш и кэш прямого отображения), а также для кэш-памяти общего вида, сочетающей в себе характеристики этих двух типов кэш-памяти. Генерация начального состояния кэш-памяти осуществляется путем разрешения ограничений, составленных для тестового шаблона.