RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Вестник Московского университета. Серия 1: Математика. Механика // Архив

Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2015, номер 1, страницы 55–59 (Mi vmumm209)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Краткие сообщения

О полных тестах относительно вытесняющих неисправностей входов схем

Е. В. Морозов

Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, факультет вычислительной математики и кибернетики

Аннотация: Рассматриваются неисправности входов схем, при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна $2n-\log_2{n}+O(\log_2{\log_2{n}})$, а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна $2^n$.

Ключевые слова: булева функция, функция Шеннона, тесты.

УДК: 519.718

Поступила в редакцию: 12.12.2013


 Англоязычная версия: Moscow University Mathematics Bulletin, Moscow University Mеchanics Bulletin, 2015, 70:1, 37–40

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024