О схемах, допускающих короткие тесты

Рассматриваются схемы из функциональных элементов над базисом $\{\&,\vee,-\}$. Допускаются однотипные константные неисправности на выходах элементов, когда все неисправные элементы в схеме реализуют константу $p$ ($p\in \{0,1\}$). Конструктивно устанавливается, что любую булеву функцию от $n$ переменных можно реализовать схемой из функциональных элементов $\&,\vee,-$, допускающей полный проверяющий тест, длина которого не превосходит $n$.
Библиогр. 3.