RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Вестник Санкт-Петербургского университета. Серия 10. Прикладная математика. Информатика. Процессы управления // Архив

Вестн. С.-Петербург. ун-та. Сер. 10. Прикл. матем. Информ. Проц. упр., 2017, том 13, выпуск 1, страницы 17–26 (Mi vspui317)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Прикладная математика

Method for determining optical constants and the thickness of the thin film

[Методика определения оптических констант и толщины тонкой пленки]

A. G. Karpov, V. A. Klemeshev

St. Petersburg State University, 7–9, Universitetskaya nab., St. Petersburg, 199034, Russian Federation

Аннотация: Представлены результаты разработки и применения методики определения оптических констант и толщины тонкой пленки. Для определения неизмеримых параметров сформирована обобщенная целевая модельная функция. Модельная привязка осуществляется с помощью методов наименьших квадратов и наискорейшего спуска. Повышение эффективности достигается путем применения трехэтапного алгоритма обработки данных. Предложенная методика применена для расчета характеристик многощелочного фотокатода — сложного соединения, имеющего в своем составе антимониды калия, натрия и цезия. Проведено сравнение результатов расчетов с данными, приводимыми в литературе. Библиогр. 11 назв. Ил. 4.

Ключевые слова: тонкая пленка, оптические константы, толщина тонкой пленки, обобщенная целевая модельная функция, алгоритм обработки данных.

УДК: 004.942, 538.958

Поступила: 3 ноября 2016 г.
Принята к печати: 19 января 2017 г.

Язык публикации: английский

DOI: 10.21638/11701/spbu10.2017.102



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024