Аннотация:
Описана автоматизированная установка для исследования магнитооптических свойств тонких пленок металлов in situ . Представлены технические характеристики и основные параметры установки. Приведены результаты исследования магнитооптических свойств образца, с предварительно напыленной in situ пленкой $\mathrm{Fe}$ толщиной около $100$ Å, на подложке $\mathrm{Si(111)}$.
Разработанная автоматизированная система позволяет повысить точность, скорость и надежность при измерениях магнитооптических свойств тонких пленок в сверхвысоком вакууме.