RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал вычислительной математики и математической физики // Архив

Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 2023, том 63, номер 8, страницы 1354–1366 (Mi zvmmf11605)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Математическая физика

Моделирование эмиссионных процессов в сильных электромагнитных полях

Т. А. Кудряшова, С. В. Поляков, Н. И. Тарасов

ИПМ им. М.В. Келдыша РАН, 125047 Москва, Миусская пл., 4, Россия

Аннотация: Рассмотрена проблема расчета процессов электронной эмиссии с поверхности металлов при сильных электромагнитных полях с учетом релятивистских эффектов. Одним из методов моделирования в данной области является метод частиц, сочетающийся с сеточным расчетом полей на основе уравнений Максвелла. Подобные методики развиваются с 1960-х годов по настоящее время. При этом существующие подходы все еще имеют определенные ограничения. В настоящей работе для аксиально-симметричной геометрии, генерирующей системы, представлена новая численная методика моделирования процессов эмиссии электронов с поверхности металлических катодов. Методика использует представление крупных сглаженных гауссовых частиц и реализует расчеты электромагнитных полей на декартовых пространственных сетках. Программная реализация ориентирована на параллельные вычисления. Целью численных экспериментов было определение параметров электронной эмиссии. В качестве тестовых задач были выбраны диодные и триодные цилиндрические системы. В численных расчетах получены пространственно-временные характеристики релятивистских электронных пучков, порождаемых эмиссионными процессами, в том числе воспроизведен ток Чайлда–Ленгмюра. Разработанная численная методика подтвердила свою корректность и эффективность.
Библ. 42. Фиг. 7.

Ключевые слова: электронная эмиссия, сильные электромагнитные поля, сеточные методы, методы частиц, параллельные вычисления.

УДК: 519.63

Поступила в редакцию: 25.02.2023
Исправленный вариант: 14.03.2023
Принята в печать: 28.04.2023

DOI: 10.31857/S0044466923080100


 Англоязычная версия: Computational Mathematics and Mathematical Physics, 2023, 63:8, 1486–1498

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024