RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал вычислительной математики и математической физики // Архив

Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 2005, том 45, номер 8, страницы 1466–1483 (Mi zvmmf615)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Контролирование свойств разностных сеток с помощью мониторной метрики

А. Глассерa, И. А. Китаеваb, В. Д. Лисейкинc

a Los Alamos National Laboratory, USA
b 630090 Новосибирск, ул. Пирогова, 2, Новосибирский гос. ун-т
c 630090 Новосибирск, пр-т Лаврентьева, 6, Ин-т вычисл. Технологий СО РАН

Аннотация: Дано описание универсального эллиптического метода построения разностных сеток, базирующегося на численном решении обращенных уравнений Лапласа относительно мониторной метрики. Приведены формулы мониторных метрик для построения адаптивных и согласованных с векторными полями разностных сеток. Представлены примеры численных экспериментов. Библ. 16. Фиг. 8.

Ключевые слова: разностная сетка, мониторная метрика, адаптация.

УДК: 519.63

Поступила в редакцию: 02.11.2004
Исправленный вариант: 02.02.2005


 Англоязычная версия: Computational Mathematics and Mathematical Physics, 2005, 45:8, 1416–1432

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024